機(jī)臺(tái)型號(hào)：ATI-530型 EVA體積表面電阻率測(cè)試儀

符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 10581-2006《絕緣材料在高溫下電阻和電阻率的試驗(yàn)方法》 

GB/T 1692-2008《硫化橡膠絕緣電阻率的測(cè)定》 

GB/T 12703.4-2010《紡織品 靜電性能的評(píng)定 第４部分：電阻率》 

GB/T 10064-2006《測(cè)定固體絕緣材料絕緣電阻的試驗(yàn)方法》

GB/T 1410-2006《 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》 

ASTM D257-99 《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》 

GB/T 2439-2001《硫化橡膠或熱塑性橡膠 導(dǎo)電性能和耗散性能電阻率的測(cè)定》

一、概述

量限從1×104Ω～1×1018 Ω，是目前國內(nèi)測(cè)量范圍0寬，準(zhǔn)確度0高的數(shù)字超高阻測(cè)量?jī)x。電流測(cè)量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為100/250/500/1000V任意可調(diào)。本儀器既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。采用了美國Intel公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高。以雙3.1/2 位數(shù)字直接顯示電阻的高阻計(jì)和電流。

二、主要特點(diǎn)

ATI-530型 EVA體積表面電阻率測(cè)試儀所有測(cè)試電壓(100/250/500/1000V) 測(cè)試時(shí)電阻結(jié)果直讀，免去老式高阻計(jì)在不同測(cè)試電壓下或不同量程時(shí)要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩，使測(cè)量超高電阻就如用萬用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。既能測(cè)超高電阻又能測(cè)微電流

電阻測(cè)量范圍寬：0.01×104Ω～1×1018Ω

電流測(cè)量范圍為：2×10-4Ａ～1×10-16Ａ

體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高

電阻、電流雙顯示

性能好穩(wěn)定、讀數(shù)方便

三、技術(shù)指標(biāo)

1、電阻測(cè)量范圍：0.01×104Ω～1×1018Ω

2、電流測(cè)量范圍為：2×10-4A～1×10-16A

3、雙表頭顯示：3.1/2位LED顯示

4、內(nèi)置測(cè)試電壓：100V、250V、500V、1000V

5、基本準(zhǔn)確度：2% (*注)

6、內(nèi)置測(cè)試電壓：10V、25V、100V、250、500、1000V

7、使用環(huán)境：溫度：0℃～40℃相對(duì)濕度<80%

8、供電形式：AC 220V，50HZ，功耗約5W

9、儀器尺寸：285ｍｍ× 245ｍｍ× 120 mm

10、質(zhì)量：約2.5KG

四、工作原理

本儀器是同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時(shí)變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，所以，即使測(cè)量電壓、被測(cè)量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對(duì)其結(jié)果影響不大，其測(cè)量精度很高(0)，從理論上講其誤差可以做到零，而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。

根據(jù)歐姆定律，被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過測(cè)量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低。整個(gè)刻度是非線性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí)，其電壓V也會(huì)有些變化，所以普通的高阻計(jì)是精度差、分辨率低。

典型應(yīng)用

1.硫化橡膠體積、表面電阻率測(cè)定

2.測(cè)量防靜電鞋、導(dǎo)電鞋的電阻值

3.測(cè)量防靜電材料的電阻及電阻率

4.測(cè)量計(jì)算機(jī)房用活動(dòng)地板的系統(tǒng)電阻值

5.測(cè)量絕緣材料電阻(率)

6.光電二極管暗電流測(cè)量

7.物理,光學(xué)和材料研究

8.高分子材料表面體積電阻率測(cè)定