簡單而常用的非破壞性試驗(yàn)方法是測量被試品的絕緣電阻。
當(dāng)直流電壓作用于任何介質(zhì)上時(shí),通過它的電流可包含三部分;泄漏電流、電容電流(衰減較快)和吸收電流,后兩部分是與時(shí)間有關(guān)的,故隨加壓的時(shí)間增長而減小,并在相當(dāng)?shù)臅r(shí)間后趨于零。此時(shí)總的電流便趨于穩(wěn)定值,這個(gè)穩(wěn)定的電流值就是泄漏電流。
通常,電氣設(shè)備的絕緣都是多層的。例如:電機(jī)絕緣所用的云母帶(用粘合漆將云母片貼在紙帶或綢帶上制成);電纜、變壓器等的絕緣中使用的油浸紙;有的電纜和套管中用的膠和紙等。這些多層介質(zhì)的絕緣體,在外施直流電壓下,就有前述的吸收現(xiàn)象,即電流逐漸減小而趨于某一恒定值(泄漏電流)。圖3-1中的曲線1即為這一電流隨時(shí)間變化的曲線。因?yàn)橥ㄟ^介質(zhì)的電流與介質(zhì)電阻的測量值成反比,故可用曲線2表示介質(zhì)加電壓后,其電阻的測量值與時(shí)間的關(guān)系曲線。如被試品絕緣狀況愈好,吸收過程進(jìn)行得愈慢,吸收現(xiàn)象便愈明顯。如被試品受潮嚴(yán)重,或其中有集中性的導(dǎo)電通道,由于絕緣電阻顯著降低,泄漏電流增大,吸收過程快,如圖3-1中曲線3所示。這樣,流過絕緣的電流便迅速地變?yōu)橐惠^大的泄漏電流。因此,可根據(jù)被試品電流的變化情況來判斷被試品絕緣狀況。
二、絕緣電阻和吸收比的測量方法
1. 絕緣電陽和吸收比
一般在絕緣預(yù)防性試驗(yàn)中,為方便計(jì)算,不是直接去測量電流大小,而是用絕緣電阻表去測量絕緣電阻的變化。由于絕緣電阻表內(nèi)直流電壓是一定的,故絕緣電阻與電流成反比。
當(dāng)被試品絕緣中存在貫穿的集中性缺陷時(shí),反映泄漏電流的絕緣電阻明顯下降,在用絕緣電阻表檢查時(shí)便可發(fā)現(xiàn)。例如:變電站中用的針式支持絕緣子,最常見的缺陷是瓷質(zhì)開裂,開裂后絕緣電阻明顯下降,就可用絕緣電阻表檢測出來。
但對許多電氣設(shè)備,例如發(fā)電機(jī)的絕緣電阻往往變動(dòng)甚大,它和被試品的體積、尺寸,空氣狀況等有關(guān),往往難以給出一定的絕緣電阻判斷標(biāo)準(zhǔn)。通常是把處于同一運(yùn)行條件下不同相的絕緣電阻進(jìn)行比較,或是把這一次測量的絕緣電陰和過去對它曾測得的絕緣電阻值進(jìn)行比較來發(fā)現(xiàn)問題。
對于電容量較大的設(shè)備,如電機(jī)、變壓器、電容器等,可利用吸收現(xiàn)象來測量它們的絕緣電阻(即絕緣電阻的測量值)隨時(shí)間的變化,以判斷絕緣狀況。吸收試驗(yàn)反映B級絕緣和B級浸膠絕緣的局部缺陷和受潮程度比較靈敏。例如,發(fā)電機(jī)定子絕緣的吸收現(xiàn)象是十分明顯的,通常用吸收比來表示
即60s(秒)時(shí)絕緣電阻表的讀數(shù)與15s(秒)時(shí)讀數(shù)之比。
由于K值是兩個(gè)絕緣電阻之比值,故與設(shè)備尺寸無關(guān),可有利于反映絕緣狀態(tài),例如:對于干燥的B級絕緣的發(fā)電機(jī)定子繞組,在10~30℃時(shí)吸收比遠(yuǎn)大于1.3;若受潮嚴(yán)重,則絕緣的電阻值顯著降低,傳導(dǎo)電流增加,吸收電流衰減迅速,使R60與R15之比大大下降,K≈1。如K<1.3,則可判斷為絕緣可能受潮。
當(dāng)絕緣有嚴(yán)重集中性缺陷時(shí),K值也可反映出來。 例如當(dāng)發(fā)電機(jī)定子絕緣局部發(fā)生裂紋;變壓器絕緣紙板、支架、線圈上沉積有油泥時(shí),形成了局部性傳導(dǎo)電流較大的通道,于是K值便大為降低而近于1。對于大型電機(jī)或大型電力變壓器及電容器等,由于吸收現(xiàn)象特別顯著,在60s時(shí)測得的絕緣電阻仍會(huì)受吸收電流的影響,這時(shí)應(yīng)采用極化指數(shù)P1作為衡量指標(biāo),是指同一次試驗(yàn)中,10min時(shí)的絕緣電阻與1min時(shí)的絕緣電阻值之比。DL/T596-1996《電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》規(guī)程規(guī)定,絕緣良好時(shí),極化指數(shù)P1一般不小于1.5。
需要注意的是:有時(shí)當(dāng)某些集中性缺陷雖已發(fā)展得很嚴(yán)重,以致在耐壓試驗(yàn)中被擊穿,但耐壓試驗(yàn)前測出的絕緣電阻值和吸收比均很高,這是因?yàn)檫@些缺陷雖然嚴(yán)重,但還沒有貫穿的緣故。因此,只憑絕緣電阻的測量來判斷絕緣狀況是不可靠的,但它畢竟是一種簡單而有一定效果的方法,故使用十分普遍。
2.絕緣電阻表的工作原理和接線
通常使用的絕緣電阻表接線如圖3-2所示。絕緣電阻表由兩部分組成:①直流電源,由手搖(或電動(dòng))直流發(fā)電機(jī)構(gòu)成;②測量機(jī)構(gòu),主要由一對磁極和兩個(gè)線圈構(gòu)成。絕緣電阻表有三個(gè)端子:線路端子L,接地端子E和屏蔽端子G,被試絕緣接于L與E間。
電壓線圈1與電流線圈2繞向相反,并可帶動(dòng)指針旋轉(zhuǎn)。由于沒有彈簧游絲,故無反作用力矩。當(dāng)線圈中無電流通過時(shí),指針可取任一位置
測量時(shí),搖動(dòng)手搖發(fā)電機(jī)(轉(zhuǎn)違約120轉(zhuǎn)/min),當(dāng)線圈1中通過電流I1時(shí),產(chǎn)生力矩M1作用于線圈1上。同樣有I2時(shí)便有力矩M2作用于線圈2上。
圖3-3為絕緣電阻表測量電瓷試品時(shí)的情況。被試品兩端接在絕緣電阻表L和E兩個(gè)端子上,在岸近電極L附近的被試品上用銅線繞幾匝作為屏蔽電極 P,將其接至絕緣電用表的屏破端子G上。從絕緣電阻表電源正極E出發(fā)經(jīng)過試品內(nèi)部到絕緣電阻表端子L的體積泄漏電流i1將流經(jīng)電流線圈2而回到電源負(fù)極(參看圖3-2)。而從正極出發(fā)經(jīng)被試品表面的泄電流i2,則由屏蔽電極經(jīng)屏蔽端子G直接流回電源負(fù)極。同樣,絕緣電阻表接線端子E與L間的泄漏電流i3也將直接經(jīng)屏蔽端子G到電源負(fù)極。I2、i3不流過電流線圖2,也就不會(huì)影響絕緣電阻表的讀數(shù)。
常用絕緣電阻表的額定電壓有500、1000、2500、5000V等幾種;通常額定電壓為1kV及以上的電氣設(shè)備要選用2500V或5000V的絕緣電阻表,額定電壓為1000V以下的電氣設(shè)備用500V或1000V的絕緣電阻表。
目前現(xiàn)場已廣泛采用數(shù)字式絕緣電阻表,它采用整流電源,試驗(yàn)人員可根據(jù)需要選擇電壓量程,當(dāng)在被試品絕緣上施加電壓時(shí),取被試品電壓、電流信號經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換,簡單數(shù)值計(jì)算,用液晶數(shù)顯方式給出結(jié)果。
3測量注意事項(xiàng)
(1)試驗(yàn)前應(yīng)將被試品接地放電一定時(shí)間:
(2)高壓測試連接線應(yīng)盡量保持架空,需使用支撐時(shí),要確認(rèn)支撐物的絕緣對被試品絕緣測試結(jié)果的影響極小。
(3)選合適的絕緣電阻表。根據(jù)被試品的電壓等級選擇。
(4)測量吸收比和極化指數(shù)時(shí),應(yīng)待電源電壓達(dá)穩(wěn)定后再接入被試品,并開始計(jì)時(shí)。
(5)對電容值大的試品,試驗(yàn)完后,應(yīng)在保持絕緣電阻表電源電壓的條件下,先斷開L端子與被試品的連線,再停止搖表。
(6)變壓器、電機(jī)試驗(yàn)時(shí),被測繞組首尾短接,再接到L端子。非被試?yán)@組也要短路接地,這樣做可避免非被試?yán)@組中剩余電荷的影響,且可測被試?yán)@組與非被試?yán)@組及地的絕緣出阻。另測量順序?qū)Y(jié)果也有影響,所以每次做試驗(yàn)時(shí),應(yīng)按照相同的順序試驗(yàn)。
(7)記錄試驗(yàn)時(shí)的溫度、濕度。
4. 影響測試結(jié)果的主要因素
(1)溫度、濕度及表面臟污的影響。溫度對絕緣電阻的影有很大,當(dāng)溫度增加時(shí),絕緣電阻值將按指數(shù)規(guī)律下,為了比較測量結(jié)果,最好能在相近的溫度下進(jìn)行測量。否則應(yīng)按式(3 3)將測量結(jié)果換算成同一溫度下的數(shù)值
式中:R1、R2為溫度t1、t2時(shí)的絕緣電阻值:
濕度主要影響絕緣表面泄漏電流,由于絕緣表面吸附潮氣,形成水膜,使絕緣電阻降低,此外,由于某些絕緣材料的毛細(xì)管作用,在濕度大的情況下,會(huì)吸收一些水分,導(dǎo)致電導(dǎo)增加,絕緣電阻下降。
電氣設(shè)備絕緣表面的臟污會(huì)使表面的絕緣電阻下降,從而造成整體絕緣電阻的明顯降低。 (2)放電時(shí)間及感應(yīng)電壓的影響。每進(jìn)行一次高壓試驗(yàn),都應(yīng)將試品充分放電。這是因為
試驗(yàn)后,尤其是直流試驗(yàn),由于剩余電荷的存在,使充電電流和吸收電流比前一次測量時(shí)小,造成吸收比減小而絕緣電阻增大,容易引起誤判斷。
此外,由于帶電設(shè)備和停電設(shè)備間的電容耦合,使得被試設(shè)備上存在感應(yīng)電壓,這在500kV設(shè)備試驗(yàn)時(shí)表現(xiàn)尤其突出,會(huì)造成指針不穩(wěn)定,擺動(dòng),感應(yīng)電壓強(qiáng)烈時(shí)甚至?xí)p壞絕緣電阻表,得不到真實(shí)的數(shù)值,為此必要時(shí)要采取電場屏蔽等措施。
(3)為便于比較,每次測景最好用型號相同的絕緣電阻表。以消除因表的負(fù)載特性不同帶來的誤差。
5.測量結(jié)果的分析判斷
對測得的絕緣電陽進(jìn)行分析才能掌握設(shè)備的絕緣狀態(tài),一般來說,絕緣電阻應(yīng)不小于某一容許值,并且換算到同一溫度下,與歷史數(shù)據(jù)(出廠試驗(yàn)、交接試驗(yàn)、歷次預(yù)防性試驗(yàn)、大修前后和耐壓前后)比較,與同型設(shè)備、同一設(shè)備相間比較,結(jié)果均不應(yīng)有明顯的降低或較大的差異,否則應(yīng)查明原因。對較大電容量的設(shè)備如電纜、發(fā)電機(jī)、變壓器等絕緣狀況的分析,除以絕緣電陽值的大小和變化趨勢為依據(jù)外,吸收比和極化指數(shù)是主要的判據(jù),如有明顯的下降,說明絕緣劣化。
第二節(jié)泄漏電流的試驗(yàn)
泄漏電流試驗(yàn)與絕緣電阻測量原理相同,只是前者在更高電壓下進(jìn)行(高于10kV),由于在升壓過程中便于監(jiān)測泄漏電流值,因而易于發(fā)現(xiàn)集中性缺陷。
泄漏試驗(yàn)需由直流高壓設(shè)備供電,用微安表測量泄漏電流值。高壓設(shè)備絕緣試驗(yàn)所用的直流高壓是利用交流高壓經(jīng)整流得到。以前多用高壓整流管,其平均工作電流較小、燈絲變壓器需高絕緣并有較強(qiáng)的放射線、影響工作人員健康,現(xiàn)已被高壓硅堆所取代。硅堆使用簡便,體積小,堅(jiān)固耐用,且整流電流較大,圖3-4為發(fā)電機(jī)絕緣泄漏試驗(yàn)的一些典型曲線,對良好的絕緣,泄漏電流隨試驗(yàn)電壓U成直線上升,且值較小(曲線1),當(dāng)絕緣受潮時(shí),電流數(shù)值如曲線2所示。如絕緣中有集中性缺陷,則泄漏值在超過一定試驗(yàn)電壓時(shí)將劇烈增加(曲線3).缺陷愈嚴(yán)重,泄漏值發(fā)生劇增的試驗(yàn)電壓值愈低(曲線4)。此時(shí)設(shè)備在運(yùn)行中有擊穿的危險(xiǎn)。
一、試驗(yàn)接線
泄漏電流試驗(yàn)所用接線如圖3-5所示。當(dāng)用圖3-5(a)接線時(shí),其接線的優(yōu)點(diǎn)是讀數(shù)方便安全。但由于回路的高壓引線等對地的雜散電流(泄流、電暈等電流Ig)以及高壓試驗(yàn)變壓器對地的泄漏電流等都經(jīng)微安表,使讀數(shù)中包含被試品絕緣內(nèi)部泄漏電流以外的電流,造成測量誤差。這可以利用接入被試品前后的兩次讀數(shù)之差求得泄漏電流,但其誤差也往往較大。因此,在實(shí)際測量中,如被試品一端不直接接地,則微安表可接在被試品與地之間,如圖3-5(b)所示,則上述誤差即可消除。如被試品一端已接地,則可采用圖3-6所示的試驗(yàn)接線,將微安表接在高壓端。為了避免高壓引線的電暈電流等經(jīng)過微安表,可采用屏蔽的方法,使微安表處于屏蔽罩內(nèi),并用屏蔽線將微安表接到被試品的高壓端,如圖中虛線所示。
二、微安表的保護(hù)
被試品在試驗(yàn)中可能出現(xiàn)放電以致?lián)舸?,為防止大電流流過微安表,試驗(yàn)回路中還必須對微安表進(jìn)行保護(hù)。一般多采用與微安表并聯(lián)一開關(guān)的辦法將微安表短路,當(dāng)讀數(shù)時(shí)把開關(guān)打開。
常用的保護(hù)接線如圖3-7所示,保護(hù)電阻R用來產(chǎn)生電壓,使流過微安表的電流達(dá)到一定值時(shí)放電管F動(dòng)作。并聯(lián)電容器C為濾波電容,用以減少微安表的擺動(dòng),還可使放電管兩端電壓上升陡度降低。電容器和放電管用來分流試品擊穿時(shí)的短路電流,電容器可以提供高頻電流支路,通常C>1μF。
三、測量時(shí)的注意事項(xiàng)
(1)微安表接于高壓測時(shí),絕緣支柱應(yīng)牢固可靠,防止搖擺傾倒。
(2)試驗(yàn)設(shè)備的布置要緊湊,連線要短,既要安全,又便于操作,對地要有足夠的距離,接地線應(yīng)牢固可靠。
(3)被試品表面擦拭干凈,并加屏蔽。
(4)能分相試的被試品應(yīng)分相試驗(yàn),非試驗(yàn)相應(yīng)短路接地。
(5)試驗(yàn)電容量小的被試品應(yīng)加穩(wěn)壓電容。
(6)試驗(yàn)時(shí)微安表必須進(jìn)行保護(hù):
(7)試驗(yàn)結(jié)束后,應(yīng)對被試品進(jìn)行充分放電。
四、影響因素
(1)高壓連接導(dǎo)線對地泄漏電流的影響。可用增加導(dǎo)線直徑、縮短導(dǎo)線、增加對地距離等措施以減小對測量結(jié)果的影響。
(2)空氣濕度對表面泄漏電流的影響。試驗(yàn)前將被試品表面擦試干凈,并應(yīng)用屏蔽電極以降低表面泄漏電流的影響。
(3)溫度的影響。溫度對試驗(yàn)的影響極為顯著,因此,對所測的泄漏電流值應(yīng)換算至相同溫度才能進(jìn)行比較。
(4)殘余電荷的影響。殘余電荷直接影響泄漏電流值,因此,試驗(yàn)前必須對被試品進(jìn)行充分放電。
五、測量結(jié)果的分析判斷
現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)中對泄漏電流有規(guī)定的設(shè)備,應(yīng)按是否符合規(guī)定值來判斷,對標(biāo)準(zhǔn)中無明確規(guī)定的設(shè)備,應(yīng)將測得的泄漏電流值換算到同一溫度下與歷次試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行比較,同一設(shè)備的各相間相互比較、同類設(shè)備之間相互比較,視其變化來分析判斷。對于重要設(shè)備(如主變壓器、發(fā)電機(jī)等),可繪出電流隨電壓變化的關(guān)系曲線進(jìn)行分析。
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